上海超聲波探傷儀的缺陷是怎么測(cè)定的？

1、在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷:

a) 缺陷次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F1≥50%。

b) 底面次反射波（B1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷次反射波（F1）波高與底而次反射波〈B1）波高之比大于或等于50%，即B,<，而F1/B1≥50%.

c) 底面第-次反射波（B1）波高低于滿刻度的50%，即B,<50%。

2、缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法

a) 檢出缺陷后、應(yīng)在它的周闈繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的范圍。

b) 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，

并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下上海超聲波上海探傷儀屏滿刻度的25%或使缺陷次反射波波高與底面次反射波波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。

c) 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷次反射波波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下上海超聲波上海探傷儀屏滿刻度的25%或使缺陷次反射波波高與底面次反射波波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度．探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。

d）確定1. c )中缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭（單真探頭或雙直探頭）使底面次反射波升高到上海超聲波上海探傷儀屏滿刻度的50%。此時(shí)探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度、探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。

e）當(dāng)板厚較?。_需采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。