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1、在檢測過程中,發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷:
a) 缺陷次反射波(F1)波高大于或等于滿刻度的50%,即F1≥50%。
b) 底面次反射波(B1)波高未達(dá)到滿刻度,此時(shí),缺陷次反射波(F1)波高與底而次反射波〈B1)波高之比大于或等于50%,即B,<,而F1/B1≥50%.
c) 底面第-次反射波(B1)波高低于滿刻度的50%,即B,<50%。
2、缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法
a) 檢出缺陷后、應(yīng)在它的周闈繼續(xù)進(jìn)行檢測,以確定缺陷的范圍。
b) 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí),探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直,
并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下天津超聲波天津探傷儀屏滿刻度的25%或使缺陷次反射波波高與底面次反射波波高之比為50%。此時(shí),探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。
c) 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí),移動探頭使缺陷次反射波波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下天津超聲波天津探傷儀屏滿刻度的25%或使缺陷次反射波波高與底面次反射波波高之比為50%。此時(shí),探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度.探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。
d)確定1. c )中缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí),移動探頭(單真探頭或雙直探頭)使底面次反射波升高到天津超聲波天津探傷儀屏滿刻度的50%。此時(shí)探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度、探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。
e)當(dāng)板厚較?。_需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時(shí),基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來校準(zhǔn)。